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UV-365便攜式紫(zi)(zi)外(wai)(wai)線強度(du)計(雙通道)采用SMT貼(tie)片技術(shu),選用高(gao)精度(du)低(di)功耗數字芯片,儀器(qi)外(wai)(wai)殼(ke)為(wei)流線型(xing)設(she)計,探測器(qi)經過嚴格(ge)的光譜及(ji)角度(du)特(te)性校正,性能穩定,適用性強。適用于光化學、高(gao)分(fen)子材料老化、紫(zi)(zi)外(wai)(wai)光源(yuan)、以及(ji)大規模(mo)集成電(dian)路光刻等領域的紫(zi)(zi)外(wai)(wai)輻照度(du)測量工作。
便攜式紫外(wai)線強(qiang)度計(ji)UV-313采用(yong)SMT貼片(pian)技術,選(xuan)用(yong)高精度低功耗數字芯片(pian),儀器(qi)外(wai)殼為(wei)流線型設計(ji),探測器(qi)經過(guo)嚴格(ge)的光(guang)(guang)譜(pu)及角度特性(xing)校正,性(xing)能(neng)穩定,適用(yong)性(xing)強(qiang)。適用(yong)于光(guang)(guang)化學、高分子材(cai)料老化、紫外(wai)光(guang)(guang)源、以及大(da)規模集成電路光(guang)(guang)刻等領域的紫外(wai)輻照度測量工作(zuo)。
紫外(wai)(wai)輻照計UV-A采用(yong)(yong)SMT貼片技術,選(xuan)用(yong)(yong)高精(jing)度低功耗數字(zi)芯片,儀器(qi)外(wai)(wai)殼(ke)為(wei)流線型設計,探測器(qi)經過(guo)嚴格的(de)光譜(pu)及(ji)角度特性(xing)校正,性(xing)能穩定,適用(yong)(yong)性(xing)強。適用(yong)(yong)于光化學、高分子(zi)材(cai)料(liao)老(lao)化、紫外(wai)(wai)光源(yuan)、以(yi)及(ji)大規模(mo)集成電路(lu)光刻等(deng)領域(yu)的(de)紫外(wai)(wai)輻照度測量(liang)工作。
便攜(xie)式紫外(wai)(wai)線強(qiang)度(du)計UV-B采用(yong)SMT貼片(pian)技術,選(xuan)用(yong)高(gao)精度(du)低功(gong)耗數(shu)字芯片(pian),儀器(qi)外(wai)(wai)殼為(wei)流線型設計,探測器(qi)經過嚴格的光(guang)譜及角(jiao)度(du)特性校正,性能穩定,適用(yong)性強(qiang)。便攜(xie)式紫外(wai)(wai)線強(qiang)度(du)計適用(yong)于光(guang)化學、高(gao)分子材(cai)料老化、紫外(wai)(wai)光(guang)源(yuan)、以及大規(gui)模集成電路光(guang)刻等領域的紫外(wai)(wai)輻照度(du)測量工作(zuo)。便攜(xie)式紫外(wai)(wai)線強(qiang)度(du)計廣泛運用(yong)衛生(sheng)監督。