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UV-M紫外輻照計適用于殺菌、光刻、固化(hua)、紫外光源(yuan)、探傷(shang)、材(cai)料老化(hua)、水處理(li)、醫療、育種(zhong)等領域(yu)的紫外輻照度(du)測量工作(zuo)。使(shi)用環境(jing):溫(wen)度(du)(20±20)℃;濕度(du)80%
UV-365便攜式(shi)紫外(wai)線強(qiang)度(du)計(雙通道)采用SMT貼片技術,選用高精度(du)低功耗數字芯(xin)片,儀器(qi)外(wai)殼為流線型設計,探測器(qi)經過(guo)嚴格(ge)的光(guang)譜及角度(du)特性(xing)校正,性(xing)能(neng)穩定,適(shi)用性(xing)強(qiang)。適(shi)用于光(guang)化學、高分(fen)子材(cai)料老化、紫外(wai)光(guang)源、以及大(da)規模(mo)集成電(dian)路光(guang)刻等領(ling)域(yu)的紫外(wai)輻照度(du)測量工作(zuo)。
便攜式紫(zi)外線強(qiang)度(du)計(ji)UV-313采用(yong)(yong)SMT貼片技術,選用(yong)(yong)高精度(du)低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設(she)計(ji),探測器經過嚴格的光譜及角度(du)特性校正,性能(neng)穩定,適(shi)用(yong)(yong)性強(qiang)。適(shi)用(yong)(yong)于光化學、高分(fen)子材(cai)料老化、紫(zi)外光源、以(yi)及大(da)規(gui)模集成電路光刻等領(ling)域的紫(zi)外輻(fu)照度(du)測量工作。
紫外(wai)輻(fu)照計UV-A采用SMT貼片(pian)技術,選(xuan)用高精度低功耗數(shu)字(zi)芯片(pian),儀器外(wai)殼(ke)為流(liu)線(xian)型設計,探測(ce)器經過(guo)嚴格的(de)光(guang)譜及角度特性(xing)校正(zheng),性(xing)能穩定,適(shi)用性(xing)強。適(shi)用于光(guang)化學、高分子材料老化、紫外(wai)光(guang)源(yuan)、以及大(da)規模集(ji)成電(dian)路光(guang)刻等(deng)領域的(de)紫外(wai)輻(fu)照度測(ce)量工作。
便攜(xie)式(shi)紫(zi)外線(xian)強度(du)(du)(du)計UV-B采用(yong)SMT貼片技術(shu),選用(yong)高(gao)(gao)精度(du)(du)(du)低功耗數字芯片,儀(yi)器(qi)外殼為流線(xian)型設計,探測器(qi)經過嚴(yan)格的光譜及角度(du)(du)(du)特(te)性校正(zheng),性能穩定,適用(yong)性強。便攜(xie)式(shi)紫(zi)外線(xian)強度(du)(du)(du)計適用(yong)于光化學、高(gao)(gao)分(fen)子(zi)材料老化、紫(zi)外光源、以(yi)及大規模(mo)集成電路光刻等領域的紫(zi)外輻照度(du)(du)(du)測量工作(zuo)。便攜(xie)式(shi)紫(zi)外線(xian)強度(du)(du)(du)計廣泛運用(yong)衛生監督(du)。