當次使用(yong)(yong)拉(la)(la)曼光(guang)譜或操(cao)作(zuo)軟(ruan)件時(shi)，用(yong)(yong)戶(hu)經(jing)常會遇(yu)到一些所謂的(de)共同(tong)問(wen)題的(de)困擾(rao)，這些“共同(tong)問(wen)題”可以用(yong)(yong)較(jiao)為簡單的(de)方(fang)法(fa)(fa)解決。下面列出一些便攜式拉(la)(la)曼光(guang)譜儀常見的(de)問(wen)題和解決方(fang)法(fa)(fa)。

    1、為(wei)什(shen)么(me)儀器不工(gong)作？
　　
　　新手或有(you)一定操(cao)作經驗的實(shi)驗員(yuan)或多或少會碰到這個“嚴重”問題(ti)，可按(an)順序(xu)檢(jian)查下列各項以保證儀器和所有(you)附件(jian)都正確接通。

　　檢(jian)查儀器和(he)所有附件插座都(dou)插好并接通電(dian)源；
　　保(bao)證激光(guang)(guang)器(qi)（如果(guo)附帶電源(yuan)）都(dou)插好并(bing)接通，由于(yu)激光(guang)(guang)器(qi)有(you)不同種類，可參(can)照每(mei)個激光(guang)(guang)器(qi)的(de)說明書獲取(qu)進(jin)一(yi)步的(de)幫助；
　　在有兩(liang)個(ge)或多個(ge)激光器(qi)的(de)系統中，確保聯鎖系統設置在正確的(de)位(wei)置上，正確的(de)激光器(qi)被接(jie)通(tong)；
　　檢查儀(yi)器的(de)外罩處于安全(quan)的(de)關閉狀(zhuang)態(tai)，聯鎖裝(zhuang)置正在運轉。
　　如(ru)果(guo)以上操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)都已經檢(jian)查(cha)過，便可(ke)準備(bei)進行光(guang)譜(pu)測試(shi)了。將樣(yang)品放置(zhi)在(zai)顯(xian)微鏡下(xia)(xia)，啟動(dong)光(guang)譜(pu)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)軟件(jian)，如(ru)果(guo)仍(reng)不(bu)能得到光(guang)譜(pu)，再檢(jian)查(cha)下(xia)(xia)面各項：
　　保(bao)證樣(yang)品被正確地(di)放置(zhi)在顯微鏡下，測量時(shi)經常需改變不同(tong)的(de)(de)測試區域以避免因(yin)樣(yang)品不純帶來一些非期望結果的(de)(de)可能；
　　保(bao)證激光正確輻照(zhao)在樣品(pin)上，保(bao)證顯微(wei)鏡光圈的孔徑設置(zhi)正確并處于正確的位置(zhi)上（不同品(pin)牌的拉曼光譜(pu)儀按(an)各自的要(yao)求(qiu)處理(li)）；
　　檢查所有(you)軟件窗口(kou)的(de)設置是否正確；
　　檢查成像(xiang)區域設(she)置窗(chuang)口的(de)數值(zhi)并保證激光像(xiang)點處(chu)于該(gai)(gai)區域的(de)中心。標(biao)準(zhun)成像(xiang)區域應該(gai)(gai)是激光像(xiang)點中心垂直(zhi)方(fang)向兩邊各10個像(xiang)元。檢查狹縫的(de)設(she)置，當進行標(biao)準(zhun)操作(zuo)時，狹縫應為50μm。
　　
　　如果CCD探(tan)測器(qi)飽和了，將得不到任(ren)何有用(yong)的信息(xi)。可采(cai)用(yong)降低激發(fa)光功率(lv)或提高儀(yi)器(qi)的共焦(jiao)程度來避免(mian)。
　　
　　當檢查完上述各(ge)項后，應該可以得到一張樣(yang)品(pin)的拉(la)曼譜(pu)圖。如仍然(ran)不(bu)能(neng)得到譜(pu)圖，可先嘗試測試單(dan)晶(jing)硅的拉(la)曼譜(pu)。單(dan)晶(jing)硅是良好的拉(la)曼散(san)射(she)體(ti)，可以用(yong)來幫助驗證儀器(qi)的性能(neng)。如果(guo)用(yong)單(dan)晶(jing)硅樣(yang)品(pin)可以獲取(qu)硅的520cm-1峰，再嘗試測試樣(yang)品(pin)。現在用(yong)戶可以得到樣(yang)品(pin)的拉(la)曼信(xin)號，但可能(neng)噪聲較大。在這種(zhong)情況下(xia)，可參(can)照Q4的建議來提高信(xin)噪比和信(xin)背(bei)比。
　　
　　2、為什么得到的(de)(de)光譜中總是有隨(sui)機(ji)的(de)(de)、尖銳的(de)(de)譜線(xian)？
　　
　　這些譜線(xian)一般被認為(wei)是(shi)宇(yu)宙射(she)線(xian)。宇(yu)宙中的(de)高能粒子(zi)輻照在CCD探測器上(shang)會(hui)導致電子(zi)的(de)產生進而(er)被相機解(jie)釋為(wei)光(guang)的(de)信號。宇(yu)宙射(she)線(xian)在時間(jian)和產生的(de)光(guang)譜位移上(shang)*是(shi)隨機的(de)，它們有(you)很大的(de)強(qiang)度、類似發(fa)射(she)譜線(xian)、半(ban)高寬較小(xiao)(<1.5m-1)。為(wei)確認宇(yu)宙射(she)線(xian)的(de)存在，可(ke)馬(ma)上(shang)重新掃描光(guang)譜會(hui)發(fa)現峰(feng)的(de)消失(shi)。如果譜線(xian)依然存在，則(ze)很有(you)可(ke)能是(shi)室內光(guang)線(xian)的(de)干擾，可(ke)參見Q3問題(ti)的(de)解(jie)答。
　　
　　宇宙(zhou)(zhou)射(she)線隨著掃(sao)描(miao)(miao)曝光(guang)時(shi)間的增加出現的概率會增加，因此當(dang)長時(shi)間掃(sao)描(miao)(miao)一(yi)個光(guang)譜時(shi)，必須避免宇宙(zhou)(zhou)射(she)線在光(guang)譜中(zhong)的出現，這可以(yi)通(tong)過軟(ruan)件(jian)中(zhong)宇宙(zhou)(zhou)射(she)線去除(chu)能完成。這是一(yi)些軟(ruan)件(jian)中(zhong)包(bao)含的實驗設(she)置功(gong)能，當(dang)使用時(shi)，將(jiang)在同一(yi)樣品位(wei)置掃(sao)描(miao)(miao)三次(ci)(ci)（相當(dang)于積分三次(ci)(ci)），軟(ruan)件(jian)將(jiang)比較這三次(ci)(ci)掃(sao)描(miao)(miao)獲得的光(guang)譜并(bing)去除(chu)沒有在所有光(guang)譜中(zhong)出現的尖銳峰。
　　
　　3、總是(shi)在測試時得到一些位(wei)置重復的(de)、尖(jian)銳的(de)譜峰，為什(shen)么？
　　
　　當重(zhong)復測試一(yi)個樣品時(shi)發(fa)現有一(yi)些尖銳譜線在相同的(de)(de)位置重(zhong)復出現時(shi)，可以(yi)排除(chu)它們是宇宙(zhou)射線的(de)(de)可能(因宇宙(zhou)射線的(de)(de)位置足隨機的(de)(de))。這些重(zhong)復的(de)(de)尖銳譜線通常來自日光(guang)燈的(de)(de)發(fa)射或CRT顯示器的(de)(de)磷光(guang)發(fa)射，尤其當用長工(gong)作距(ju)離(li)的(de)(de)物鏡(jing)時(shi)問題更嚴重(zhong)。它們也(ye)可能來自氣體激光(guang)器發(fa)射的(de)(de)等離(li)子線，需仔細(xi)鑒別。
　　
　　便攜式(shi)拉曼(man)光譜中的(de)(de)熒光干擾來(lai)自于汞的(de)(de)發射，可(ke)以將(jiang)室內(nei)的(de)(de)日光燈(deng)關閉或在較暗的(de)(de)白熾(chi)燈(deng)下工作。儀器室內(nei)應盡可(ke)能暗。簡(jian)單的(de)(de)做法是(shi)將(jiang)儀器室裝飾成暗房樣(yang)式(shi)，以避免任何來(lai)自所謂白光發射的(de)(de)無數反(fan)常規的(de)(de)發射譜線。
　　
　　磷(lin)光(guang)線的干擾主要是CRT顯(xian)示(shi)器上所鍍磷(lin)光(guang)物質引起。如發現(xian)此種情況，可將CRT顯(xian)示(shi)器關掉或將熒光(guang)屏(ping)的亮度調暗。需要牢記的是：這些發射譜線的波(bo)數(shu)值(zhi)永遠是在同一個坐標(biao)值(zhi)上，當轉換不同波(bo)長激光(guang)激發時(shi)它們在拉(la)曼譜上的位置是移動和改變的。
　　
　　當上述方法都不能解決(jue)問題而你正在使用514nm激(ji)光(guang)進行(xing)激(ji)發(fa)時(shi)，檢(jian)查(cha)等離子線(xian)濾光(guang)片是否(fou)已經插(cha)上。在其它激(ji)光(guang)配置系(xi)統中(zhong)，要(yao)(yao)么(me)不需要(yao)(yao)檢(jian)查(cha)，要(yao)(yao)么(me)激(ji)光(guang)器上已經包含(han)了濾光(guang)片。
　　
　　4、為什么測試時(shi)一些光(guang)譜給(gei)出十分強的背景信(xin)號，而這些信(xin)號湮蓋了拉曼信(xin)號？
　　
　　一些發熒(ying)(ying)光(guang)或(huo)磷光(guang)的(de)樣(yang)品在測(ce)量(liang)時(shi)會給出(chu)非(fei)常(chang)高的(de)背景(jing)光(guang)譜(pu)。令人遺憾的(de)是(shi)這些是(shi)樣(yang)品材料(liao)的(de)本征性(xing)質(zhi)，是(shi)激光(guang)輻照下(xia)(xia)無法避免的(de)結果，而(er)且通(tong)常(chang)情況下(xia)(xia)熒(ying)(ying)光(guang)比拉曼信(xin)號(hao)更強。盡管這樣(yang)，我(wo)們仍(reng)可(ke)采(cai)取(qu)一些措施(shi)減(jian)少或(huo)減(jian)輕熒(ying)(ying)光(guang)副作用。
　　
　　猝滅(mie)：一些樣品可采用測試(shi)前將激光輻照(zhao)在表(biao)面一段時(shi)間(jian)對熒光進(jin)行猝滅(mie)以減小(xiao)熒光光譜的(de)(de)背景增強拉曼信號。猝滅(mie)的(de)(de)時(shi)間(jian)根據(ju)樣品不同可從幾分鐘到幾小(xiao)時(shi)。值得注意的(de)(de)是：猝滅(mie)效應是呈指(zhi)數衰減的(de)(de)，一開始就可觀察到。
　　
　　共(gong)焦模式(shi)(shi)：采用(yong)共(gong)焦模式(shi)(shi)測(ce)量強光下(xia)輻照(zhao)的小體(ti)積(ji)樣(yang)品(pin)(pin)(pin)時熒光將會大大降低。該法也同樣(yang)適合有熒光襯底的樣(yang)品(pin)(pin)(pin)，例如被熒光物質基體(ti)包裹的樣(yang)品(pin)(pin)(pin)。
　　
　　改變激發(fa)激光(guang)的波(bo)長(chang)：有時改變波(bo)長(chang)是可行的避免熒光(guang)干擾的方法。對用可見(jian)光(guang)激發(fa)的系統(tong)，熒光(guang)都是一件麻煩事情(qing)，將(jiang)激發(fa)波(bo)長(chang)移至紫外或(huo)近紅外區域很可能解決或(huo)減少此(ci)類問題。
　　
　　如果(guo)拉曼(man)實(shi)驗室里有太(tai)多的(de)(de)(de)室內(nei)光源比如熒光、白熾燈(deng)或日光燈(deng)等，這會(hui)在(zai)測(ce)試光譜上出(chu)現不必要的(de)(de)(de)背景信號(hao)。因此在(zai)測(ce)試的(de)(de)(de)時(shi)候應將(jiang)(jiang)室內(nei)光關閉或降到小或用遮光罩將(jiang)(jiang)樣品臺罩住以避(bi)免外界的(de)(de)(de)雜散(san)光進(jin)入光譜儀。
　　
　　5、為什么待測樣品的信(xin)號很弱？信(xin)噪比(bi)很差(cha)？
　　
　　當進行(xing)樣品測(ce)試時(shi)發(fa)現拉曼(man)光(guang)譜信號(hao)很弱，首先(xian)要檢(jian)(jian)查樣品是(shi)否正確放置在(zai)顯微鏡下(xia)并(bing)且處(chu)于聚(ju)焦狀(zhuang)態。你也可以將測(ce)試區域移到樣品的另一個部位。同時(shi)檢(jian)(jian)查儀器是(shi)否處(chu)于常規狀(zhuang)態而不是(shi)處(chu)在(zai)共焦狀(zhuang)態。如果(guo)激光(guang)功(gong)率(lv)小于100％，應嘗試提高功(gong)率(lv)增強信號(hao)。如果(guo)光(guang)譜噪聲(sheng)很大，可采用增加掃描積分時(shi)間或積分次數來提高信噪比。
　　
　　增(zeng)加掃描積分(fen)(fen)時間可(ke)以讓CCD獲取更多的拉曼信號，增(zeng)強整個(ge)無關噪聲(sheng)的特征(zheng)。該(gai)法適宜于當背景(jing)和拉曼信號都低的情景(jing)。當兩者都不強時，增(zeng)加積分(fen)(fen)時間只會增(zeng)加CCD探測器飽(bao)和的機會。
　　
　　對幾個特(te)定的掃(sao)描光譜進行(xing)數(shu)據(ju)疊加可(ke)以增強隨機背景噪聲下的拉曼信號，增加信噪比。
　　
　　適當選擇掃描積(ji)分時間和積(ji)分次數(shu)可獲得大可能的(de)曝光(guang)度增加(jia)信噪(zao)比(bi)。不過要注(zhu)意一點：信噪(zao)比(bi)跟(gen)積(ji)分次數(shu)的(de)平方根成正比(bi)，疊(die)加(jia)四次可獲得二倍信噪(zao)比(bi)的(de)提高。
　　
　　另一個與信(xin)噪(zao)比密切(qie)相關的參數是信(xin)背(bei)比。如果背(bei)景部分很高，將會(hui)湮蓋拉曼信(xin)號只給(gei)出系(xi)統噪(zao)聲。
　　
　　6、怎樣避(bi)免被測試的樣品被激光燒毀？
　　
　　當進行樣(yang)品(pin)測試時(shi)(shi)，激(ji)(ji)光照射在(zai)(zai)樣(yang)品(pin)表面的能(neng)量(liang)是(shi)非(fei)常大(da)的，尤其(qi)在(zai)(zai)采用(yong)NIR或(huo)UV激(ji)(ji)光激(ji)(ji)發時(shi)(shi)。尤其(qi)是(shi)一些樣(yang)品(pin)在(zai)(zai)光照下對(dui)熱或(huo)光是(shi)十分敏感的，這會導致測量(liang)信號包(bao)含樣(yang)品(pin)燒毀(hui)后的特征(zheng)，而不是(shi)樣(yang)品(pin)本征(zheng)的信號(例如(ru)，非(fei)晶碳膜在(zai)(zai)1500cm-1波數附近的本征(zheng)峰(feng)在(zai)(zai)強光激(ji)(ji)發時(shi)(shi)會顯示出石墨化(hua)(hua)的碳峰(feng))。通常遇到這樣(yang)的問題時(shi)(shi)，可(ke)在(zai)(zai)樣(yang)品(pin)測試前后通過顯微鏡白光像觀察樣(yang)品(pin)表面是(shi)否發生明(ming)顯變化(hua)(hua)，因此需選擇正(zheng)確的激(ji)(ji)光功(gong)率來進行測試。
　　
　　為避免(mian)(mian)樣品(pin)(pin)表面燒毀，在(zai)開(kai)始測試時應(ying)選用較(jiao)低的(de)激(ji)發功率(lv)(lv)，尤其(qi)用NIR或UV激(ji)光(guang)激(ji)發時。在(zai)保(bao)證樣品(pin)(pin)不被燒毀的(de)前提下可(ke)(ke)提高激(ji)發功率(lv)(lv)以(yi)得到強的(de)信號。當激(ji)光(guang)功率(lv)(lv)衰減到1％仍無法避免(mian)(mian)樣品(pin)(pin)燒毀時，可(ke)(ke)考(kao)慮轉換低倍物鏡(jing)以(yi)降低照射(she)在(zai)樣品(pin)(pin)表面的(de)功率(lv)(lv)密度(du)。另外還可(ke)(ke)采用欠(qian)焦(jiao)照射(she)模式(shi)或線聚焦(jiao)照射(she)模式(shi)。如(ru)果問(wen)題是由于高功率(lv)(lv)二極管激(ji)光(guang)器引起的(de)，可(ke)(ke)考(kao)慮轉換成(cheng)低功率(lv)(lv)可(ke)(ke)見激(ji)發系統。
　　
　　7、當(dang)測試的(de)樣品是液(ye)態、粉末或(huo)體(ti)積非常大(da)時怎么辦？
　　
　　液體(ti)樣品(pin)(pin)可采(cai)用毛(mao)細管或液體(ti)池或直接將液體(ti)滴在(zai)載(zai)玻片上進(jin)行測(ce)試，粉末樣品(pin)(pin)可取少許放(fang)置在(zai)載(zai)玻片上進(jin)行測(ce)試，固體(ti)大樣品(pin)(pin)可由儀器公司提供(gong)的大樣品(pin)(pin)臺進(jin)行測(ce)試。
　　
　　8、當樣品需要在不同高壓下測試怎么辦(ban)？
　　
　　可向儀器公司購置或在(zai)國內相關單(dan)位訂制一套(tao)拉曼高壓樣品測試池(chi)對(dui)樣品進行測試。
　　
　　9、如(ru)果想進行偏振拉曼測量該(gai)怎(zen)么(me)辦(ban)？
　　
　　應配(pei)置(zhi)一套偏(pian)振(zhen)片(pian)和半波片(pian)進行測試，偏(pian)振(zhen)拉曼可幫助測試者對(dui)分(fen)子振(zhen)動的對(dui)稱性進行檢測。
　　
　　10、為什(shen)么將測試樣品放置不同(tong)取向時得到的(de)拉(la)曼譜(pu)圖(tu)不相(xiang)同(tong)？
　　
　　這是(shi)因為(wei)入射激光(guang)(guang)照射在(zai)樣品表面不同晶面取向上引起的。采用四(si)分之(zhi)(zhi)一(yi)波片對激光(guang)(guang)進行擾(rao)偏(pian)可幫助去(qu)除方向效應(ying)。一(yi)般可向儀器公司(si)或其它提供光(guang)(guang)學(xue)元(yuan)件(jian)的公司(si)購買(mai)四(si)分之(zhi)(zhi)一(yi)波片。